原装现货SANKO微型探头测厚仪

原装现货SANKO微型探头测厚仪

原装现货SANKO微型探头测厚仪

在精密机械加工与小型零部件制造中，工件往往存在曲面、沟槽或狭小内腔等复杂结构，常规尺寸的测厚探头在这些部位难以实现稳定接触。SANKO三高 SL-200E 电磁模拟薄膜厚度计针对局部涂层厚度测量进行了探头微型化设计，为复杂形状工件的膜厚检测提供了一种适配性较强的方案。

该设备的核心部件是一枚微型两极式探针。探头尺寸仅为 10（宽）×17（高）×21（深）毫米，磁极直径 φ2.5 毫米，极间距离 5 毫米。较小的体积使其能够深入零件的狭窄区域，适合测量平面、曲面、圆杆、复杂形状以及内表面的局部涂层厚度。结合定制制造的服务，可满足部分特殊内部小部件的测量需求。设备提供两个测量量程：I 档为 1.0~50μm，适用于薄膜层检测；II 档为 0~500μm，覆盖常规涂层厚度范围。测量精度为均匀平坦面积下 ±1 微米或指示值的 ±2%。

主机采用紧凑型台式设计，正面配备大型模拟表盘，指针读数直观反映厚度变化。机身尺寸为 190（宽）×90（高）×120（深）毫米，重量约 1.8 公斤。供电方式灵活，支持 8 节 AA 电池（1.5V）直流供电，也可通过附带的交流适配器接入 100V、50/60Hz 交流电源使用。工作温度范围为 0~40℃（无冷凝），适应常规车间与实验室环境。随附配件包含标准厚板、交流适配器及肩箱，便于携带与日常校验。

从应用场景来看，SL-200E 适用于小型金属零件的表面涂装、电子元器件引脚涂层、紧固件防腐层以及精密机械内部组件的膜厚抽检。操作时由于探头较小，需注意保持探头与被测面的垂直贴合，对于曲面工件应寻找相对平坦的局部进行测量，以降低接触状态对读数的影响。模拟表盘读数建议在指针稳定后进行记录。该型号适合对局部、小尺寸或形状复杂工件有涂膜测厚需求的加工与质检环节。