电测RST-231电阻式膜厚计技术参数与应用解析

电测RST-231电阻式膜厚计技术参数与应用解析

一、产品概述

电测株式会社（Densoku Co., Ltd.）推出的 RST-231 电阻式膜厚计，是一款基于四探针电阻法原理、专用于绝缘材料上金属薄膜厚度测量的仪器。型号 RST-231 可快速测量铜箔、印刷电路板（PCB）上的镀层等金属薄膜厚度，不受双面和多层板背面或内层的影响。测量时间仅需 0.7 秒，提供 2-24 μm 和 10-120 μm 两种测量范围。

二、产品规格

三、核心设计特征

1. 四探针电阻法测量原理
RST-231 采用四探针电阻法测量绝缘材料上的金属薄膜厚度。该方法不受双面和多层板背面或内层铜箔的影响，可准确测量表面金属膜厚度。

2. 快速测量（0.7秒）
测量时间仅需约 0.7 秒，适合生产线上的批量检测与品质管理。

3. 两种测量范围切换
提供 2-24 μm 和 10-120 μm 两种测量范围，用户可根据被测膜厚选择合适的量程，提高测量精度。

4. 大屏幕电脑显示
屏幕大、亮度高，通过电脑进行校准与测量操作，界面直观易用。

5. 异常检测功能
可设置膜厚上限和下限值，出现异常值时触发通知，便于及时发现品质异常。

6. 丰富的统计处理功能
支持直方图、轮廓图、xR 控制图等多种图表显示，可随时进行统计处理分析。

7. 40通道注册与管理
最多可注册 40 个通道，可根据用户名、零件编号等进行单独注册和管理，适用于多品种测量。

8. 多种探针可选
根据不同测量需求，可选用不同间距和半径的探针：

四、典型应用场景

五、标准附件

• 4点探针 KD-110（1个）

• 标准板 TCU-145（1个）

六、选型要点

• 确认被测膜厚范围（2-24μm 或 10-120μm）

• 确认测量点尺寸与探针选型（间距 1mm 或 2mm）

• 确认是否需要特定探针半径（0.05R / 0.1R / 0.2R）

• 确认使用电源规格（AC100～240V宽电压兼容）

七、总结

电测 RST-231 电阻式膜厚计通过四探针电阻法，为绝缘材料上的金属薄膜提供了一种快速、高精度的测量方案。其 0.7 秒的测量时间、双量程切换及 40 通道管理功能，适用于 PCB 铜箔、电子元件镀层等生产现场的品质管理。