电测QNIx 8500便携式膜厚计技术参数与应用解析

电测QNIx 8500便携式膜厚计技术参数与应用解析

一、产品概述

电测株式会社（Densoku Co., Ltd.）推出的 QNIx 8500 便携式膜厚计，是一款重量轻、体积小、易于现场使用的高精度膜厚测量仪器。型号 QNIx 8500 可自动识别铁质（F）和非铁质（N）材料，并测量铁质材料上的非磁性涂层以及非铁质材料上的非导电涂层。产品采用无线数据传输技术，探头重量仅30g，配备红宝石，可在不损伤样品的情况下进行安全测量。该产品享受三年免费保修。

二、产品规格

三、核心设计特征

1. 自动识别铁质与非铁质材料
QNIx 8500 可自动识别和切换铁质（F）与非铁质（N）材料，无需手动切换模式，适用于混合材料的批量测量。

2. 出厂预录16点校准数据
产品出厂时已预录16点校准数据，无需繁琐的薄膜校准即可精确测量薄膜厚度，大幅减少了现场准备时间。

3. 无线数据传输
采用“无线适配器"，只需将其插入 USB 端口即可传输测量数据至电脑，无需通过电缆连接，使数据查看更加快捷方便。

4. 超轻量无线探头
探头重量仅30g，通过无线方式将测量数据传输至主机，降低了电缆缠绕或妨碍操作的风险，避免了传统产品常见的跌落等意外事故。

5. 耐用且不损伤样品
探头采用强化塑料外壳，耐用性提升30%。探头配备红宝石，可在不损伤样品的情况下进行安全测量。

6. 三年免费保修
通过与德国 Automation Dr. Nix 公司的技术合作，提供的售后服务，产品享受三年免费保修。

注：因操作不当（如外壳损坏、电池盖丢失、主机与探头连接错误、电池液泄漏、红宝石芯片损坏）造成的损坏不在三年免费保修范围内。

四、测量模式与功能

五、选型参考

六、典型应用场景

七、选型要点

• 确认基材类型（铁质/非铁质/两者兼有）

• 确认测量范围需求（标准2000μm，可选5000μm）

• 确认所需精度与分辨率

• 确认是否需要数据存储与传输功能（无线适配器）

• 确认是否需要微型探头（T型）用于狭小区域

八、总结

电测 QNIx 8500 便携式膜厚计通过自动材料识别、无线数据传输与超轻量探头设计，为铁质和非铁质材料上的涂层测量提供了一种便携高效的解决方案。其 0.1μm 的分辨率、约40次/分钟的测量速度及红宝石探头，适用于汽车、航空、船舶及金属加工等领域的现场膜厚品质管理。