池田屋正品SANKO 三高 EX-731 荧光 X 射线薄膜厚度计无损镀层检测设备

摘要：

SANKO 三高 EX-731 荧光 X 射线薄膜厚度计采用贯通狭缝设计，长工件无需裁切即可无损测厚，镀层分布可视化，自动生成检测报表。

正文：

电镀、型材加工行业常遇到长尺寸工件检测难题，常规 X 射线膜厚仪样品仓受限，必须裁切样品才能检测，既破坏成品，又增加检测成本。SANKO 三高 EX-731 荧光 X 射线薄膜厚度计，采用双侧贯通狭缝结构，长型材直接穿过设备完成检测，无需裁样。设备依托 X 射线荧光无损检测原理，样品检测后无损伤，高价值成品可保留继续使用。配套显示屏直观展示镀层分布，快速定位漏镀、厚薄不均区域；配套 Windows 软件支持自动记录数据，一键输出质检报告，满足质量体系存档。产品适用于五金电镀件、连接器、长金属型材等样品，检测镍、铬、贵金属各类镀层。设备使用前，需要按规范完成相关报备手续。该设备减少试样损耗，为长尺寸工件镀层品质管控提供高效无损方案。